メモリ・システムのハードウェア・テスト結果 － RLDRAM II & Stratix FPGA

このページでは、RLDRAM II メモリ・デバイスにインタフェースする Stratix® FPGA に対するハードウェア・テスト結果を提供します。

テスト結果から得られる特長は、以下のとおりです。

• ハードウェアで実証されるシステム性能が Stratix FPGA で 400 Mbps データ・レート（200 MHz クロック周波数）を超える
• 測定波形とシミュレーション波形との間に十分な相関関係がある

メモリ・システムのテスト環境

表 1 に RLDRAM II メモリ・デバイスにインタフェースする Stratix FPGA 用のテスト・パラメータを示します。

ボードのセットアップ

RLDRAM II Stratix ハードウェア・リファレンス・プラットフォームには、1 個の Stratix EP1S40F1020 デバイス、2 個の 16 Meg x 18 ビット RLDRAM II CIO デバイス（Stratix FPGA のトップ・バンク上に配置）、コンフィギュレーション・デバイス、標準拡張ポート、ボタン、スイッチ、LED、ロジック・アナライザ・コネクタ用デバッグ・ポート、および特性評価コンポーネントが含まれています。

以下の写真がこの RLDRAM II Stratix ハードウェア・リファレンス・プラットフォームです。

ブロック図

アルテラはハードウェア・プラットフォーム上で Stratix RLDRAM II メモリ・インタフェース・ソリューションを徹底的にテストしました。 以下の図は、システムのトップレベルのブロック図を示します。

図 1. Stratix デバイスでの RLDRAM II メモリ・コントローラのブロック図

注：
(1) Stratix デバイスは読み出し動作に QK# を使用しません。

テスト結果

テスト結果は、以下のとおりです。

• Stratix FPGA に実装された RLDRAM II コントローラの性能は、400 Mbps（200 MHz クロック周波数）を超える（図 2 参照）
• 実際のハードウェア測定結果とシミュレーション結果には相関関係がある

図 2. RLDRAM II CIO シングル・ビット・データ・アイ・ダイアグラム - 200 MHz

まとめ

RLDRAM II メモリは、性能が重視されるネットワーキングおよびキャッシュ・アプリケーション用の、大容量かつSRAMに匹敵するランダム・アクセス性能が特徴のメモリです。 アルテラの Stratix デバイスを RLDRAM II メモリ・デバイスにインタフェースさせたときのハードウェア・テスト結果は、アルテラの FPGA デバイスが「Time-to-market」を短縮し、新しいデザインの実装に対するリスクを軽減できることを示しています。

デモについては、アルテラのフィールド・アプリケーション・エンジニアにお問い合わせください。

関連リンク

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