テストおよび計測機器は、数百のデバイスを同時に評価する大規模な自動テスト装置（ATE）から技術者が現場で使用する小型のハンドヘルド・テスタまで、幅広い装置の実装に対応します。
収益効率重視の市場動向に後押しされテスト対象デバイス （DUT） がますます複雑化する中で、OEM からはピン単位ベースで、最大の柔軟性/機能性およびコンポーネントあたりの最高ピン集積度の両方が要求されています。アルテラの FPGA は、この柔軟性／機能性を提供する主要なコンポーネントです。 さらに、将来の装置アーキテクチャに影響を与える以下のような、いくつかの技術的トレンドも登場しています。
- オープン・アーキテクチャ・ハードウェアおよびソフトウェア・プラットフォームに向けた動き
- 新たに登場する技術の初期段階から成熟後の寿命末期までのテスト環境の仮想化
- 標準化されたシリアル・コンポーネント・インターコネクト（HSIO）に匹敵する独自技術からの移行
テストおよび計測機器の OEM は、これらのトレンドを考慮して、以下の実装アーキテクチャの１つを選択します。
