RELEASE DATE: 2008年5月30日
アルテラのNios II エンベデッド評価キット、
「2008 Tech Choice Award」で２つの賞を受賞
米オンライン・メディア「eg3.com」で、「Editor’s Choice」賞と
「Reader’s Choice」賞を受賞、メディアと開発者の双方から高い評価
プログラマブル・ロジック・ソリューションの世界的リーディング・カンパニーであるアルテラ・コーポレーション（本社：米国カリフォルニア州サンノゼ、社長兼CEO：ジョン・デイナ、日本法人： 東京都新宿区、代表取締役社長：日隈 寛和、NASDAQ：ALTR 以下、アルテラ）は米国時間5月29日（日本時間5月30日）、「Nios® II エンベデッド評価キット Cyclone III エディション（Nios II Embedded Evaluation Kit、通称：NEEK）」が、米オンライン・メディア「eg3.com」の、「2008 Tech Choice Award（FPGAおよびツール部門）」において、「Reader’s Choice」賞と、「Editor’s Choice」賞の２つの賞を受賞したことを発表しました。
「Tech Choice Award」は、革新的な技術と、その技術の普及に尽力した企業に対して授与されます。同賞は、仮想化技術、組込みプロセッサ、組込みツール、FPGAとツール、ワイヤレス、MicroTCAなど、重要な技術分野を対象に選考を行っています。
Nios II エンベデッド評価キットは、豊富な機能を持つ低コストな評価プラットフォームで、簡単な操作で素早く、Nios II プロセッサやアルテラのシステム・デザイン・ツール「SOPC Builder」の評価を可能にするものです。さらにこの評価キットは、タッチパネルの画面を指先で操作するだけで、ネットワークやハードウェア・アクセラレーション、画像処理などのサンプル・アプリケーションを実行することができます。また、この評価キットはFPGA搭載のプロセッサを初めて利用するソフトウェア設計者にも、最適な開発プラットフォームです。
「eg3.com」編集主任のジェイソン・マクドナルド（Jason McDonald）氏は、「複数の候補製品を比較しましたが、インタラクティブな機能を提供するNios II エンベデッド評価キットの独自かつ革新的な技術は、明らかに他社製品よりも際立っていました。FPGAを使った設計の利点を実感できるNios II エンベデッド評価キットの性能が高く評価され、編集者の支持による『Editor’s Choice』賞と、読者の支持による『Reader’s Choice』賞の受賞となりました」と述べています。
アルテラのソフトウェア、エンベデッド、およびDSP担当マーケティング・ディレクタのクリス・バロー（Chris Balough）は、「当社製品が業界で高く評価され、今回の賞を受賞したことを誇りに思っております。Nios II エンベデッド評価キットは発表以来、顧客から高い評価を得てきました。当社とパートナー企業から提供される豊富なアプリケーション群とタッチ・スクリーン・インタフェースにより、Nios II プロセッサはその性能を目に見える形で示し、設計者はデザインを自社システム上に速やかに取り入れることを可能にします」と述べています。
Nios II エンベデッド評価キット Cyclone III エディションの詳細情報は、アルテラのWebサイト（www.altera.com/nios2eval 日本語：www.altera.co.jp/nios2eval）でご覧いただけます。
アルテラ・コーポレーションについて
アルテラ・コーポレーションは、プログラマブル・ロジック・ソリューションの世界的リーディング・カンパニーです。1983年にシリコンバレーで創業した世界で最初のファブレス企業であり、1988年にNASDAQに上場しました。PLD、FPGA/CPLD、ASICなど、カスタム・ロジックの分野におけるテクノロジー・リーダーとして高成長を続け、顧客企業のイノベーションに貢献しています。世界各国に拠点を持ち、日本法人である日本アルテラ株式会社は1990年に設立されました。顧客志向のソリューションが高く評価され、日本におけるPLD市場でトップシェアを維持しています。
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